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随着集成电路技术的飞速发展以及SOC系统的出现,电路的测试难度在不断增大,严重制约了SOC技术的发展,文中从SOC可测性设计出发全面......
IEEE P1500标准旨在增强嵌入式核应用商和提供商之间的交流,为SOC的测试确定标准,以确保系统芯片的快速上市,降低芯片的开发周期和......
构建了一个具有结构和功能信息的研究环境,供与SoC测试集成相关的研究使用.该环境是一个包含典型功能模块和可测性设计(design for......
未来的系统芯片设计将基于IP设计,为了加强嵌入式核应用商和提供商之间的交流,确保系统芯片的快速上市,降低芯片的开发周期和开发......
集成电路深亚微米工艺技术和设计技术的迅速发展使得SoC存储器的测试问题日益成为制约其技术发展的“瓶颈”。为解决SoC中存储器走......
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测试已经成了集成电路设计制造中不可分割的一部分,而且随着集成电路工艺复杂度和设计复杂度的提高,集成电路的测试变得越来越困难......
学位
集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展使得SOC得到越来越广泛的应用.随着系统设计规模的日益复杂,SOC的测试由于系统集成......
